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商品中心
METTLER TOLEDO梅特勒-托利多 XPR微量分析天平

XPR微量分析天平非常適合在各種大小的實驗室器皿中準確稱量較小量的珍貴樣品。 優秀的準確性和低的最小稱量值可使您稱量很少量的樣品,從而節省大量材料與降低成本。

 

XPR微量分析天平的可讀性范圍為0.001 mg至0.01 mg,最大量程為52 g,可滿足對于微量分析稱量的所有要求。 


通過內置功能確保合規性

內置質量保證功能可幫助您獲得首次準確的稱量結果。StatusLight??、LevelControl和GWP Approved協同作用,確保滿足正確稱量的所有相關條件。


小樣品 — 大節省

通過XPR微量分析天平,可直接在大型去皮容器中稱量非常小量的樣品,并具有無與倫比的準確性。 您不僅可以減少珍貴物質的使用量(較小稱重量僅為1.2 mg,符合USP標準),而且盡可能減少了浪費。 此外,由于采用內部防風罩設計,因此可減小氣流的影響和更快速地取得準確和穩定的結果。


減少樣品轉移量

通過直接加樣至去皮容器內,可避免與轉移樣品(如稱量紙)相關的非常繁瑣的回稱與重新計算過程,并且不會損失珍貴樣品。


快速而穩定的結果

SmartGrid網格秤盤地減小了氣流對稱量單元的影響。 穩定時間縮短,提供結果的速度更快,這對于在通風櫥內作業十分有益。


檢測靜電電荷

對于很小的樣品,靜電電荷會嚴重影響到記錄的稱量值。 我們獲得的StaticDetect技術可自動檢測樣品與容器上的靜電電荷,并在測量誤差超出預先定義的允差時發出警告。


規格

型號質量比較器 XPR36C質量比較器XPR56C電子天平 XPR26/AC電子天平 XPR26DR/AC電子天平 XPR56/AC電子天平XPR56DR/AC
OIML 等級M1; M2; M3; F1; E1; F2; E2M1; M2; M3; F1; E1; F2; E2



低載荷下的重復性ABA0.7 μg; 1 g0.8 μg; 2 g



保證重復性0.001 mg0.002 mg



可讀性

0.001 mg0.01 mg; 0.001 mg0.001 mg0.01 mg; 0.001 mg
合法交易

YesYesYesYes
外形尺寸 (長x高x深)195 mm x 292 mm x 485 mm485 mm485 mm485 mm485 mm
尺寸 (高x寬)

292 mm x 195 mm
最大秤量32 g52 g22 g22 g/5.1 g52 g52 g/11 g
最小秤量(符合USP,允差為0.1%,典型)1.2 mg1.2 mg1.4 mg2 mg1.4 mg2 mg
標稱載荷下的重復性2.5 μg4 μg



標稱載荷下的重復性ABA1.5 μg (1.5 μg; 20 g)2 μg; 50 g



校正內部/proFACT高級版內部/ FACT內部/ FACT內部/ FACT內部/ FACT內部/ FACT
消除重量偏心載荷已包含已包含



砝碼稱量臺



秤盤外形尺寸(深x寬)

40 mm x 40 mm40 mm x 40 mm40 mm x 40 mm40 mm x 40 mm
秤盤直徑35 mm35 mm



穩定時間3.5 s3.5 s3.5 s2.5 s3.5 s2.5 s
線性±0.012 mg




線性誤差(典型值)±

0.01 mg0.02 mg0.02 mg0.03 mg
軟件MC Link 2質量校準軟件包括MC Link 2質量校準軟件包括



重復性、典型0.6 μg0.6 μg0.0007 mg0.001 mg0.0007 mg0.001 mg
重復性測試載荷

0.0015 mg (1 g)0.002 mg (1 g)0.0015 mg (2 g)0.002 mg (2 g)
重復性(低載荷)(5%)0.6 μg0.6 μg



重量10.1 kg10.1 kg



防風罩自動自動